lexSEM 1000 II,憑借全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面,具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能,可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。此外,還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”,這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點,實現(xiàn)最直觀的視野移動。
· 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡,仍可實現(xiàn)4.0 nm的分辨率
· 憑借獨特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器(UVD*2),可在低加速/低真空下觀察時實現(xiàn)最高的畫質(zhì)
· 全新的用戶界面,無論用戶的熟練程度如何,都可實現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”,支持觀察時的視野搜索和樣品定位
· 大直徑(30毫米2)無氮EDS檢測器,可快速進行元素分析*2
項目 |
內(nèi)容 |
分辨率*3 |
4.0 nm(二次電子像、加速電壓:20 kV、高真空模式) |
加速電壓 |
0.3 kV~20 kV |
倍率 |
×6~×300,000 (照片倍率) |
低真空設(shè)置 |
6~100 Pa |
電子槍 |
集中燈箱(Pre-Centered Cartridge Filament) |
樣品臺 |
3軸馬達驅(qū)動樣品臺 |
最大樣品尺寸 |
直徑80 mm(選配:直徑153mm) |
最大樣品高度 |
40 mm |
尺寸 |
機體:450(寬度)×640(進深)×690(高度) mm |
選項 |
· 高敏感度低真空檢測器(UVD2.0) · 能量色散型X射線檢測器(EDS) |
軟件 |
Multi Zigzag(連續(xù)視野圖像導(dǎo)入功能) |