高性能電子光學(xué)系統(tǒng)
二次電子分辨率: 頂位二次電子探測器(2.0 nm at 1kV)*
高靈敏度: 高效PD-BSD, 超強(qiáng)的低加速電壓性能,低至100 V成像
大束流(>200 nA): 便于高效微區(qū)分析
性能優(yōu)異
壓力可變: 具有優(yōu)異的低真空(10 -300 Pa)成像性能,配備高靈敏度低真空探測器(UVD)*
開倉室快速簡單換樣(最大樣品尺寸: Φ 200 mm x 80 mmH)
項(xiàng)目 |
內(nèi)容 |
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分辨率 |
1.2 nm @ 30 kV |
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放大倍率 |
10 - 600,000× (底片倍率), 18 - 1,000,000× (800 × 600 像素) |
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電子光學(xué)系統(tǒng) |
電子槍 |
ZrO /W 肖特基式電子槍 |
加速電壓 |
0.5 - 30 kV (0.1 kV 步進(jìn)) |
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著陸電壓 |
減速模式: 0.1 - 2.0 kV *1 |
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最大束流 |
> 200 nA |
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探測器 |
低位二次電子探測器 |
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低真空模式*2 |
真空范圍: 10 - 300 Pa |
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馬達(dá)臺 |
馬達(dá)臺控制 |
5 - 軸自動(dòng) (優(yōu)中心) |
可動(dòng)范圍 |
X:0~100mm |
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最大樣品尺寸 |
最大直徑: 200 mm |
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選配探測器 |
· 高分辨率頂位二次電子探測器*1 · 高靈敏度低真空探測器 (UVD) · 5分割半導(dǎo)體探測器 (PD-BSD)*3 · 能譜儀 (EDS) · 波譜儀 (WDS) · 背散射電子衍射探測器 (EBSD) |