日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性,結(jié)合眾多的自動化功能,可高效發(fā)揮其高性能。SU3900標配多功能超大樣品倉,可應對大型樣品的觀察。
■ 樣品臺可搭載超大/超重樣品
· 通過更換樣品提示,可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品
· 選配樣品交換倉,可在主樣品倉保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品,大大提高了工作效率
· 具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*
· 紅外CCD探測器,提高了樣品臺移動的安全性
■ 支持全視野移動。SEM MAP支持超大樣品的全視野觀察
· 與GUI聯(lián)合,可配備樣品倉室導航相機
· 覆蓋整個可觀察區(qū)域
· 支持360度旋轉(zhuǎn)
■ 一個鼠標就能夠輕松操作的簡約GUI
■ 各種自動化功能
· 自動調(diào)整算法經(jīng)改良后,等待時間減少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)
· 提高了自動聚焦精度
· 搭載Intelligent Filament Technology(IFT)
■ Multi Zigzag,可實現(xiàn)多區(qū)域的大視野觀察
■ Report Creator,可利用獲得的數(shù)據(jù)批量生成數(shù)據(jù)報告
■ 可滿足多種觀察需求的探測器
· 搭載高靈敏度UVD*,支持CL觀察
· 高靈敏度半導體式背散射電子探測器,切換成分/凹凸等多種圖像
■ 配備了多功能超大樣品倉,可以搭載多種配件
■ SEM/EDS一體化功能*
■ 三維顯示測量軟件 Hitachi Map 3D*
■ 支持圖像測量軟件Image pro
ITEM |
SU3800 |
SU3900 |
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二級電子分解能 |
3.0nm(加速電壓30kV、WD=5mm、高真空模式) |
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15.0nm(加速電壓1kV、WD=5mm、高真空模式) |
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背散射電子分解能 |
4.0nm(加速電壓30kV、WD=5mm、低真空模式) |
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倍率 |
×5~×300,000(照片倍率*1) |
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×7~×800,000(實際顯示倍率*2) |
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加速電壓 |
0.3kV~30kV |
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低真空度設定 |
6~650 Pa |
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圖像位移 |
±50µm(WD=10mm) |
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最大樣品尺寸 |
200mm直徑 |
300mm直徑 |
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樣品臺 |
X |
0~100mm |
0~150mm |
Y |
0~50mm |
0~150mm |
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Z |
5~65mm |
5~85mm |
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R |
360°連續(xù) |
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T |
-20°~+90° |
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最大可觀察范圍 |
130mm直徑(R并用) |
200mm直徑(R并用) |
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最大可觀察高度 |
80mm(WD=10mm) |
130mm(WD=10mm) |
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電機驅(qū)動 |
5軸電機驅(qū)動 |
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電子光學系統(tǒng) |
電子槍 |
中心操控式鎢絲發(fā)射 |
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物像鏡頭光圈 |
4孔可動光圈 |
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檢測系統(tǒng) |
二級電子檢測器、高靈敏半導體背散射電子檢測器 |
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EDX分析WD |
WD=10mm(T.O.A=35°) |
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圖像顯示 |
自動光軸調(diào)整功能 |
自動光束調(diào)整(AFS→ABA→AFC→ABCC) |
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自動光軸調(diào)整(實時級別對齊) |
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自動調(diào)整光束亮度 |
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自動圖像調(diào)整功能 |
自動亮度和對比度控制(ABCC) |
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自動對焦控制(AFC) |
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自動標記和焦點功能(ASF) |
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自動燈絲飽和度調(diào)整(AFS) |
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自動光束對準(ABA) |
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自動啟動(HV-ON→ABCC→AFC) |
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操作輔助功能 |
光機旋轉(zhuǎn)、動態(tài)聚焦、圖像質(zhì)量改善功能、數(shù)據(jù)輸入(點對點測量、角度測量、文本)、預設放大、樣品臺位置導航功能(SEM MAP)、光束標記功能 |
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配件 |
■硬件:軌跡球、操縱桿、操作面板、壓縮機、高靈敏度操作低空探測器(UVD)、紅外CCD探測器、攝像機導航系統(tǒng)■軟件:SEM數(shù)據(jù)管理器外部通訊接口、3D捕獲、裝置臺移動限制解除功能、EDS集成 |
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配件(外部裝置) |
能量散射X射線分析儀(EDS)、波長色散X射線分析儀(WDS)、 |